探针测试仪设计模型左视图
探针测试仪设计模型是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。（SW2010绘制，不包含参数，但是可以编辑的模型）
探针测试仪设计模型的整体视图
探针测试仪设计模型的右视图
探针测试仪设计模型细节视图
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